电子元器件失效分析-苏州特斯特-湖北元器件失效分析

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热阻测试仪是一种用于物理学领域的分析仪器，于2011年01月15日启用。加热电压范围：0~50V，测量精度：-0.009%；加热电流范围：0~10A，测量精度：0.063%；热电偶测量精度：-0.01℃。用于测试LED芯片工作时的PN结温度。苏州特斯特电子科技有限公司，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，元器件失效如何分析，产品涵盖电子元器件，电路板，线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等测试设备制造国家。

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