失效分析仪-失效分析-苏州特斯特电子(查看)

X射线检测系统在食品安全越来越受到重视的今天，产品品质变得尤为重要，关乎企业的生命和声誉。我们的X射线检测系统被广泛用于产品表面和内部极微小金属和非金属异物检测，同时还可以验证产品完整性，多项质量检查，密封性检验，重量测量，容量填充控制，脂肪含量分析，残骨及鱼刺扫描等其他扩展应用。帮助企业控制产品质量，提高安全性，失效分析设备，避免消费投诉与产品召回，失效分析仪，实现高成本效益。

　热阻测试仪应用范围：各种三极管、二极管等半导体分立器件，包括：常见的半导体闸流管、双极型晶体管、以及大功率IGBT、MOSFET、LED等器件。　　各种复杂的IC以及MCM、SIP、SoC等新型结构 。　　各种复杂的散热模组的热特性测试，如热管、风扇等。　　半导体器件结温测量。　　半导体器件稳态热阻及瞬态热阻抗测量。　　半导体器件封装内部结构分析，包括器件封装内部每层结构（芯片+焊接层+热沉等）的热阻和热容参数。　　半导体器件老化试验分析和封装缺陷诊断，元器件失效分析，帮助用户准确定位封装内部的缺陷结构。　　材料热特性测量（导热系数和比热容）。　　接触热阻测量，失效分析，包括导热胶、新型热接触材料的导热性能测试。

微焦点技术以其的成像性能得到了越来越多的关注与应用。该技术可以弥补常规射线照相技术的不足，在实时成像检测及工业x射线检测领域有着广泛的应用前景。苏州特斯特电子科技有限公司，主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务，产品涵盖电子元器件，电路板，线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等测试设备制造国家。

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