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元器件失效分析-特斯特电子科技公司-常州失效分析

询盘留言|投诉|申领|删除 产品编号:598126360                    更新时间:2025-06-03
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微焦点X射线检测

主要技术参数:

1、开放式球管射线源,高管电压160kV,大管电流1mA,大靶功率7W

2、焦点尺寸2μm

3、探测器倾斜角度为±70°,图像≥100万像素,灰度等级为16位

4、载物台可绕旋转轴360度旋转

5、大可检测样品重量5Kg

6、大可检测样品尺寸为

460mm×410mm×300mm

用途:可用于半导体产品、微电子元件、电路板焊接器件等电子产品焊点质量检测及多余物检测,也可进行小直径管焊缝质量检测。

Phase12 热阻测试仪产自美国 Analysis Tech(Anatech)公司,符合美军标和 JEDEC 标准.

Analysis Tech Inc.成立于 1983 年,失效分析设备,坐落于波士顿北部,是电子封装器件可靠性测试的国际设计,制造公司。创始人 John W.Sofia 是美国麻省理工的博士,常州失效分析,并且是提出焊点可靠性,热阻分析和热导率理论的. 发表了很多关于热阻测试于分析,热导率及焊点可靠性方面的. Analysis Tech Inc.在美国有独立的实验室提供技术支持. 在全世界热阻测试仪这套设备有几百家客户.

主要用于测试二极管,三极管,线形调压器,可控硅,LED,MOSFET,MESFET ,IGBT,IC 等分立功率器件的热阻测试及分析。

无损检测就是Non Destructive Testing,元器件失效分析,缩写是NDT(或NDE,non-destructive examination),也叫无损探伤,失效分析仪,是在不损害或不影响被检测对象使用性能的前提下,采用射线、超声、红外、电磁等原理技术并结合仪器对材料、零件、设备进行缺陷、化学、物理参数检测的技术。常见的如超声波检测焊缝中的裂纹。中国机械工程学会无损检测学会是中国无损检测学术组织,TC56是其标准化机构。 [2]  即:无损检测标准化技术。

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