元器件失效分析报价-北京元器件失效分析-苏州特斯特公司

Phase12 热阻测试仪产自美国 Analysis Tech(Anatech)公司，符合美军标和 JEDEC 标准.

Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士顿北部，元器件失效分析报价，是电子封装器件可靠性测试的国际设计，制造公司。创始人 John W.Sofia 是美国麻省理工的博士，并且是提出焊点可靠性，热阻分析和热导率理论的. 发表了很多关于热阻测试于分析，热导率及焊点可靠性方面的. Analysis Tech Inc.在美国有独立的实验室提供技术支持. 在全世界热阻测试仪这套设备有几百家客户.

主要用于测试二极管，三极管，线形调压器，可控硅，LED，MOSFET，MESFET ，IGBT，IC 等分立功率器件的热阻测试及分析。

目前市场上定向微焦点x射线设备的焦点尺寸可低至0.25-3μm，并可以在0-300kV内连续工作，靶功率为300W，发射功率可达350W。为了散发高能量产生的热量，元器件失效如何分析，管头通常采用外部水冷却或内部水冷两种。采用开放式涉及，可以打开管头更换不同的阳极靶，以满足特殊检测需求。还可以改变管头窗口，甚至移走靶，用阳极棒取代。这些管头阳极棒的直径为3~80mm，北京元器件失效分析，长度可达1500mm。因为阳极棒直径比较小，所以能对管类工件进行单壁透照，获得较高缺陷检测灵敏度和分辨率。

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分离。

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