




对于故障分析而言,微光显微镜(Emission Microscope, EMMI)是一种相当有用且效率极高的分析工具。主要侦测IC内部所放出光子。在IC元件中,EHP(Electron Hole Pairs) Recombination会放出光子(Photon)。举例说明:在P-N 结加偏压,嘉兴粗糙度检测,此时N阱的电子很容易扩散到P阱,粗糙度检测装置,而P的空穴也容易扩散至N然後与P端的空穴(或N端的电子)做 EHP Recombination。

EMMI侦测的到亮点、热点(Hot Spot)情况;原来就会有的亮点、热点(Hot Spot)饱和区操作中的BJT或MOS(Saturated Or Active Bipolar Transistors /Saturated MOS)动态式CMOS (Dynamic CMOS)二极管顺向与逆向偏压崩溃 (Forward Biased Diodes /Reverse Biased Diodes Breakdown)侦测不到亮点情况不会出现亮点的故障奥姆或金属的短路(Ohmic Short / Metal Short)亮点被遮蔽之情况埋入式接面的漏电区(Buried Juncti)金属线底下的漏电区(Leakage Sites Under Metal)

首先超声波扫描显微镜并非与光学扫描显微镜截然不同,它们之间的相同点是“显示被测样品的显微图像”,粗糙度检测厂家,而后者是表面的显微图像,前者是内部显微图像;在一些特殊行业特殊领域中,正是需要超声波扫描显微镜的内部成像,从作用原理上光学镜为可见光,而超声波扫描显微镜自然是超声波。苏州特斯特电子科技有限公司,主要从事各类测试、检测仪器设备的代理销售和技术服务,产品涵盖电子元器件,电路板,线缆线束的测试与检测。设备主要来自于欧美日等测试设备制造国家。

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