元器件失效分析价格-元器件失效分析-特斯特电子科技公司

无损检测系统1、非破坏性非破坏性——是指在获得检测结果的同时，除了剔除不合格品外，不损失零件。因此，检测规模不受零件多少的限制，既可抽样检验，又可在必要时采用普检。因而，更具有灵活性（普检、抽检均可）和可靠性。2、互容性互容性——即指检验方法的互容性，即：同一零件可同时或依次采用不同的检验方法；而且又可重复地进行同一检验。这也是非破坏性带来的好处。3、动态性动态性——这是说，无损探伤方法可对使用中的零件进行检验，而且能够适时考察产品运行期的累计影响。因而，可查明结构的失效机理。4、严格性严格性——是指无损检测技术的严格性。首先无损检测需要仪器、设备；同时也需要专门训练的检验人员，按照严格的规程和标准进行操作。5、检验结果的分歧性检验结果的分歧性——不同的检测人员对同一试件的检测结果可能会有分歧。特别是在超声波检验时，同一检验项目要由两个检验人员来完成。需要“会诊”。概括起来，元器件失效分析价格，无损检测的特点是：非破坏性、互容性、动态性、严格性以及检测结果的分歧性等。

热阻电性规格：

加热电流测量精度（低电流测量: 0.2，元器件失效分析， 1 和2 安培测量）

2A 系统: ±1mA 10A 系统: ±5mA 20A 系统: (±10mA)

加热电流测量精度（高电流测量: 2， 10 和20 安培测量）:

2A 系统: ±4mA 10A 系统: ±20mA 20A 系统: (±40mA)

加热电压测量精度: ±0.25% ，0~30V

热电偶测量精度(T 型): 典型 ±0.1°C

交流电压：220VAC，10A，50/60Hz

器件的测试的供电电压： 20V（标配），其他的是选配。

器件的测试的供电电流： 30A(标配)，选配（100A 200A，400A，800A，1000A及更高电流）

节温的感应电流：1mA， 5mA， 10mA， 20mA， 50mA(标配)，100mA，500mA，1000mA，2500mA是选配。

数据采样频率1MHz

结温精度±0.1°C 分辨率：±0.007°C。

对于那些整体密封或者说没有任何透气孔的产品，元器件失效分析设备，就需要气密性检测仪采用正压也就是加压方式来检测密封性了， 这时候的防水

测试治具内部密封腔体就是间接测试要用到的，正压法采用的就是往这个包含产品的气密性防水测试治具内腔充入一定压力的干

燥压缩空气，然后通过气密性检测仪设备内的精密传感器实时检测内部气压变化，也就是说，如果这个电子产品密封性不好，就

会有气体进入产品内部，那么防水测试治具密封腔体内的气体就会相应的减少，进而被检测出来，电子元器件失效分析，如果泄露量大于允许泄漏量，

气密性检测仪就会报警，这样就将不合格产品甄别出来。

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