元器件失效分析-失效分析-苏州特斯特电子(查看)

测漏仪做气密性检测工作原理指南?漏洞类型检漏仪的原理?漏洞检测方法在测漏仪使用中重要性1.气密性本质类似于对被测样品的密封性，漏洞对物品的保存和使用有影响，物品收拾时应有选择的

分离。

泄漏的实际条件如热、有腐蚀性、潮湿、暗、无光、垂直距离等于应该检漏量计算的范围，结果用气密性表示，数值的意义漏洞可以分为长孔洞如介面两端有太小孔或鼻塞等和短洞两种。

短洞为小孔或鼻塞所致的数值而大孔洞是指孔径在以下的大孔洞，失效分析仪，气密性越好漏气率越高，按目标值的计算公式的气密性分数就越高。

对于那些整体密封或者说没有任何透气孔的产品，就需要气密性检测仪采用正压也就是加压方式来检测密封性了，失效分析设备， 这时候的防水

测试治具内部密封腔体就是间接测试要用到的，正压法采用的就是往这个包含产品的气密性防水测试治具内腔充入一定压力的干

燥压缩空气，然后通过气密性检测仪设备内的精密传感器实时检测内部气压变化，也就是说，失效分析，如果这个电子产品密封性不好，就

会有气体进入产品内部，那么防水测试治具密封腔体内的气体就会相应的减少，进而被检测出来，如果泄露量大于允许泄漏量，

气密性检测仪就会报警，这样就将不合格产品甄别出来。

Phase12 热阻测试仪产自美国 Analysis Tech(Anatech)公司，符合美军标和 JEDEC 标准.

Analysis Tech Inc.成立于 1983 年，坐落于波士顿北部，是电子封装器件可靠性测试的国际设计，制造公司。创始人 John W.Sofia 是美国麻省理工的博士，并且是提出焊点可靠性，热阻分析和热导率理论的. 发表了很多关于热阻测试于分析，热导率及焊点可靠性方面的. Analysis Tech Inc.在美国有独立的实验室提供技术支持. 在全世界热阻测试仪这套设备有几百家客户.

主要用于测试二极管，三极管，线形调压器，可控硅，LED，MOSFET，元器件失效分析，MESFET ，IGBT，IC 等分立功率器件的热阻测试及分析。