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热阻分析仪,漏气检测公司,如果应用于材料叫材料热阻分析仪,漏气检测,如果用于半导体分立器件称为半导体热阻分析仪,进行热测量半导体封装设备使用电交界处的温度测量方法。这些热测试包括稳态热阻,瞬态热阻抗,和芯片粘接质量检查。组件测试服务可以为半导体热表征客户装置在我厂实验室做测试。我们还提供完整系列的配件,半导体器件的热特性对所有类型的设备从集成电路分立功率器件。所有产品符合美准和适用。主要用于测试二极管,三极管,LED二极管,可控硅,MOSFET,IGBT,IC等分离功率器件的热阻测试。

射线照相法(RT)是指用X射线或γ射线穿透试件,以胶片作为记录信息的器材的无损检测方法,该方法是基本的,应用的一种非破坏性检验方法。原理:射线能穿透肉眼无法穿透的物质使胶片感光,当X射线或γ射线照射胶片时,与普通光线一样,能使胶片乳剂层中的卤化银产生潜影,由于不同密度的物质对射线的吸收系数不同,照射到胶片各处的射线强度也就会产生差异,便可根据暗室处理后的底片各处黑度差来判别缺陷。

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